涂鍍層測厚儀
EPK MiniTest 720/730/740涂層測厚儀
EPK MiniTest 720/730/740涂層測厚儀

SIDSP技術詳解

SIDSP技術-全球最新技術,智能數字化的涂層測厚探頭 
模擬信號處理時代已成過去,數字信號處理將成為未來的趨勢
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發的,世界領先的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內部數字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內部將信號完全處理為數字形式。SIDSP探頭完全依據世界頂尖技術生產。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理?
跟傳統技術不同,SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號,回傳的信號經過32位數字轉換和處理,帶給您精確的涂層厚度值。此項尖端的數字處理技術,同時應用在現代通訊技術(手機網絡)方面,如數字濾波器,基帶轉換,平均值,隨機分析,等等。此項技術能獲得與模擬信號處理無可比擬的信號質量和精確度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優勢,為涂層測厚設定了一個新的標準。

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償
由于使用了EPK特殊的自動補償方法,SIDSP電渦流探頭可以適應多種導電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無需特別在基體上校準儀器。
 
MMiniTest 720/730/740涂層測厚儀優點一覽:
-SIDSP使測量不受干擾,測值更加精確
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內置換為外置)
-FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數
-讀數和統計值能單獨調出
-超大,背光顯示屏,顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數據到打印機和PC
-可下載更新軟件 

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀技術數據表


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